キヤノンの顔認証技術が世界トップクラスに – NISTのベンチマークテストで

キヤノンは12月27日、米国国立標準技術研究所（NIST、National Institute of Standards and Technology）が主催する顔認証ベンチマークテストにおいて、日本1位・世界トップクラスの精度を達成したと発表した。